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Immobilization of partial dislocations bounding double Shockley stacking faults in 4H-SiC observed by in situ synchrotron X-ray topography
用原位同步辐射X射线形貌观察4H-SiC中双肖克利层错边界部分位错的固定
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期刊:Materialia 作者:Fumihiro Fujie; Shunta Harada; Hiromasa Suo; Balaji Raghothamachar; Michael Dudley; et al 出版日期:2021-12-01 |
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