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 Trap-Assisted Passing Word Line Leakage and Variable Retention Time in DRAM DRAM中陷阱辅助传递字线泄漏和可变保留时间
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期刊：2021 IEEE 4th International Conference on Electronics Technology (ICET) 作者：Yumeng Sun; Xiang Liu; Noakim Wang; Jongsung Jeon; Blacksmith Wu; et al 出版日期：2021-05-07 |
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