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 Electric Stress-Induced Threshold Voltage Instability of Multilayer MoS2 Field Effect Transistors 多层MoS2场效应晶体管的电应力诱导阈值电压不稳定性
相关领域
材料科学
阈值电压
负偏压温度不稳定性
压力（语言学）
晶体管
光电子学
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不稳定性
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期刊：ACS Nano 作者：Kyungjune Cho; Woanseo Park; Ju-Hun Park; Hyunhak Jeong; Jingon Jang; et al 出版日期：2013-08-08 |
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