标题 |
Deep‐Learning‐Based Microscopic Imagery Classification, Segmentation, and Detection for the Identification of 2D Semiconductors
基于深度学习的二维半导体显微图像分类、分割和检测
相关领域
人工智能
计算机科学
深度学习
卷积神经网络
RGB颜色模型
稳健性(进化)
分割
模式识别(心理学)
支持向量机
计算机视觉
化学
生物化学
基因
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其它 |
期刊:Advanced Theory and Simulations 作者:Xingchen Dong; Hongwei Li; Yuntian Yan; Haoran Cheng; Hui Xin Zhang; et al 出版日期:2022-07-13 |
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