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Concepts for chemical state analysis at constant probing depth by lab‐based XPS/HAXPES combining soft and hard X‐ray sources
基于实验室的XPS/HAXPES结合软X射线源在恒定探测深度下进行化学状态分析的概念
相关领域
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期刊:Surface and Interface Analysis 作者:Sebastian Siol; Jennifer E. Mann; John Newman; Takuya Miyayama; Katsumi Watanabe; et al 出版日期:2020-04-27 |
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