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 Angle‐resolved XPS depth profiling of modeled structures: testing and improvement of the method 模型结构的角分辨XPS深度剖面：方法的测试和改进
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期刊：Surface and Interface Analysis 作者：Josef Polčák; Jan Čechal; Petr Bábor; Michal Urbánek; Stanislav Průša; et al 出版日期：2010-04-23 |
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