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Diffraction/scattering computed tomography for three-dimensional characterization of multi-phase crystalline and amorphous materials
用于多相晶体和非晶材料三维表征的衍射/散射计算机断层扫描
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期刊:Journal of Applied Crystallography 作者:M. Álvarez-Murga; P. Bleuet; J.L. Hodeau 出版日期:2012-11-15 |
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