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 Study on relaxation phenomenon of CdZnTe photon counting detectors in X-ray imaging X射线成像中CdZnTe光子计数探测器弛豫现象的研究
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期刊：Materials Science in Semiconductor Processing 作者：Yang Kang; Rui Wu; Sen Wu; Tingting Tan; Yingrui Li; et al 出版日期：2022-10-14 |
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