标题 |
Biaxial structured illumination microscopy with high measurement accuracy based on product processing
基于产品加工的高测量精度双轴结构照明显微镜
相关领域
光学
显微镜
产品(数学)
光学显微镜
材料科学
物理
复合材料
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数学
几何学
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期刊:Optics and Laser Technology 作者:Zhongye Xie; Yan Tang; Yu He; Jianhua Sun; Jiaming Li; et al 出版日期:2022-09-01 |
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