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 Reliability of parameters of associated base straight line in step height samples: Uncertainty evaluation in step height measurements using nanometrological AFM 台阶高度样品中相关基线参数的可靠性：使用纳米计量AFM测量台阶高度的不确定度评估
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期刊：Precision Engineering 作者：Ichiko Misumi; Satoshi Gonda; Tomizo Kurosawa; Yasushi Azuma; Toshiyuki Fujimoto; et al 出版日期：2005-07-13 |
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