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 1/f noise of short-channel indium tin oxide transistors under stress 应力下短沟道氧化铟锡晶体管的1/f噪声
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期刊：Applied Physics Letters 作者：C.L. Gu; Qianlan Hu; Qijun Li; Shenwu Zhu; Jiyang Kang; et al 出版日期：2023-06-19 |
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