标题 |
Atomic force microscopy wide-field scanning imaging using homography matrix optimization
基于单应矩阵优化的原子力显微镜宽视场扫描成像
相关领域
原子力显微镜
材料科学
基质(化学分析)
显微镜
领域(数学)
纳米技术
光学
物理
复合材料
数学
纯数学
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其它 |
期刊:Micron 作者:Liguo Tian; Lanjiao Liu; Zihe Liu; Liqun Cheng; Hongmei Xu; et al 出版日期:2024-10-18 |
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