标题 |
Assessment of interface trapped charge induced threshold voltage hysteresis effect in gate-all-around TFET
全栅极TFET中界面俘获电荷诱导的阈值电压滞后效应的评估
相关领域
阈值电压
材料科学
俘获
电场
磁滞
电压
电荷(物理)
电介质
光电子学
电气工程
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物理
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工程类
生物
生态学
量子力学
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其它 |
期刊:Micro and Nanostructures 作者:Pankaj Kumar; Kalyan Koley; Syed Sadique Anwer Askari; Ashish Maurya; Subindu Kumar 出版日期:2022-12-31 |
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