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 The reliability of FeRAMS with 2T/2C or 1T/1C type cell structure 具有2T/2C和1T/1C型单元结构的FeRAMS的可靠性
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期刊：Integrated Ferroelectrics 作者：Young Min Kang; S. S. Lee; Keum Hwan Noh; Bee Lyong Yang; Chilhee Chung; et al 出版日期：2001-01-01 |
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