标题 |
Optimizing EUV imaging metrics as a function of absorber thickness and illumination source: simulation case study of Ta-Co alloy
优化作为吸收剂厚度和照明源函数的EUV成像指标:Ta-Co合金的模拟案例研究
相关领域
光学
材料科学
极紫外光刻
衍射
折射率
光学(聚焦)
偶极子
振幅
吸收(声学)
计算机科学
物理
量子力学
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊: 作者:Devesh Thakare; Annelies Delabie; Vicky Philipsen 出版日期:2022-11-01 |
求助人 | |
下载 | 暂无链接,等待应助者上传 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|