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书籍(章节) High-k Oxides on Si: MOSFET Gate Dielectrics
Si:MOSFET栅极电介质上的高k氧化物
相关领域
MOSFET
材料科学
电介质
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电压
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期刊:Materials and Energy/Materials and energy 作者:Takashi Ando; U. Kwon; Siddarth Krishnan; Martin M. Frank; V. Narayanan 出版日期:2016-08-15 |
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