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标题
Deep Learning-assisted Scan Chain Diagnosis with Different Fault Models during Manufacturing Test
制造测试过程中不同故障模型的深度学习辅助扫描链诊断
相关领域
扫描链 自动测试模式生成 断层（地质） 计算机科学 缩小 过程（计算） 可靠性工程 故障覆盖率 考试（生物学） 深度学习 制造工艺 测试压缩 集成电路 人工智能 电子线路 工程类 材料科学 古生物学 电气工程 地震学 地质学 复合材料 生物 程序设计语言 操作系统
网址
https://doi.org/10.1109/ats56056.2022.00025
DOI
10.1109/ats56056.2022.00025 doi
其它 期刊：
作者：Utsav Jana; Sourav Banerjee; Bınod Kumar; B Madhu; Shankar Umapathi; et al
出版日期：2022-11-01
求助人
zkai 在 2025-03-18 14:18:54 发布自浙江，悬赏 10 积分
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