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 Analytical long-term NBTI recovery model with slowing diffusivity and locking effect of hydrogen considered 考虑扩散率减缓和氢锁定效应的NBTI长期恢复解析模型
相关领域
热扩散率
材料科学
负偏压温度不稳定性
氢
俘获
扩散
存水弯（水管）
降级（电信）
绝缘体（电）
期限（时间）
电子工程
光电子学
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期刊：Microelectronics Reliability 作者：Zeng Yan; Xiaojin Li; Yanling Wang; Yabin Sun; Yanling Shi; et al 出版日期：2017-06-12 |
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