标题 |
Formation mechanism and photoelectric properties of Al2O3 film based on atomic layer deposition
原子层沉积Al2O3薄膜的形成机理及光电性能
相关领域
材料科学
原子层沉积
微电子
图层(电子)
电介质
纳米制造
氧化物
光电子学
薄膜
光电效应
光探测
纳米技术
基质(水族馆)
冶金
海洋学
地质学
光电探测器
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Applied Surface Science 作者:Bin Wei; Huimin Chen; Wenqiang Hua; Minyu Chen; Xingwei Ding; et al 出版日期:2022-01-15 |
求助人 | |
下载 | 该求助完结已超 24 小时,文件已从服务器自动删除,无法下载。 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|