标题 |
Wafer Map Failure Pattern Recognition and Similarity Ranking for Large-Scale Data Sets
大规模数据集的晶圆图失效模式识别和相似性排序
相关领域
薄脆饼
数据挖掘
晶圆制造
特征提取
计算机科学
模式识别(心理学)
人工智能
比例(比率)
数据集
排名(信息检索)
相似性(几何)
工程类
电气工程
量子力学
图像(数学)
物理
|
备注 |
想要WM-811K数据集,不要论文!
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing 作者:Ming-Ju Wu; Jyh‐Shing Roger Jang; J.S. Chen 出版日期:2014-10-21 |
求助人 | |
下载 | 暂无链接,等待应助者上传 |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|