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 Reliable and Radiation-Hardened Push-Pull pFlash Cell for Reconfigured FPGAs 用于重新配置FPGA的可靠且抗辐射的推挽式pFlash单元
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期刊：IEEE transactions on device and materials reliability 作者：G. Z. Liu; Zongguang Yu; Zhiqiang Xiao; Jinghe Wei; B. Li; et al 出版日期：2021-03-01 |
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