标题 |
Characterization of rf-sputtered SnOx thin films by electron microscopy, Hall-effect measurement, and Mössbauer spectrometry
射频溅射SnOx薄膜的电子显微镜、霍尔效应测量和M ö ssbauer光谱表征
相关领域
霍尔效应
分析化学(期刊)
溅射
微晶
溅射沉积
材料科学
透射电子显微镜
薄膜
电阻率和电导率
扫描电子显微镜
质谱法
粒度
化学
冶金
纳米技术
复合材料
色谱法
工程类
电气工程
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期刊:Journal of Applied Physics 作者:B. Stjerna; Claes G. Granqvist; Agneta Seidel; Lennart Häggström 出版日期:1990-12-15 |
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