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Visualization of nanocrystalline CuO in the grain boundaries of Cu2O thin films and effect on band bending and film resistivity
Cu2O薄膜晶界中纳米晶CuO的可视化及其对能带弯曲和薄膜电阻率的影响
相关领域
材料科学
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期刊:APL Materials 作者:Jonas Deuermeier; Hongjun Liu; Laetitia Rapenne; Tomás Calmeiro; Gilles Renou; et al 出版日期:2018-09-01 |
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