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 Single-event Burnout Simulation Study of 1200V Normally off SiC-JFETs 1200V常关SiC-JFET的单事件烧毁仿真研究
相关领域
倦怠
材料科学
碳化硅
钢筋
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电离
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期刊： 作者：Zhiwen Zhang; Qingwen Song; Xiao-Yan Tang; Keyu Liu; Yibo Zhang; et al 出版日期：2023-05-24 |
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