标题 |
Nanoscale film thickness measurement based on weak measurement
基于弱测量的纳米级薄膜厚度测量
相关领域
纳米
度量(数据仓库)
材料科学
计量系统
纳米尺度
电介质
弱测量
准确度和精密度
光学
观测误差
分辨率(逻辑)
简单(哲学)
光子学
光电子学
计算机科学
纳米技术
物理
复合材料
量子
统计
认识论
数据库
量子力学
哲学
人工智能
数学
天文
|
网址 | |
DOI | |
其它 |
期刊:Review of Scientific Instruments 作者:Zirui Qin; Qinggang Liu; Chong Yue; Yaopu Lang; Xinglin Zhou 出版日期:2020-12-01 |
求助人 | |
下载 | |
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|