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Improved mobility and bias stability of Hf-doped IGZO/IZO/Hf-doped IGZO thin-film transistor
Hf掺杂IGZO/IZO/Hf掺杂IGZO薄膜晶体管迁移率和偏置稳定性的改善
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期刊:Journal of Alloys and Compounds 作者:H. Kim; Ho Jin Lee; Kangmin Lee; Tae Geun Kim 出版日期:2024-01-01 |
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