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标题
Post-thinning using Ar ion-milling system for transmission electron microscopy specimens prepared by focused ion beam system
聚焦离子束透射电镜样品的Ar离子研磨后减薄
相关领域
聚焦离子束 透射电子显微镜 离子 离子束 离子铣床 材料科学 梁（结构） 阴极射线 电子显微镜 光学 分析化学（期刊） 纳米技术 电子 化学 物理 核物理学 色谱法 有机化学 图层（电子）
网址
http://dx.doi.org/10.1111/jmi.12324
AI链接 nih.govdoi.org
DOI
10.1111/jmi.12324 doi
求助人
112 在 2024-12-17 12:12:07 发布自湖南，悬赏 30 积分
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