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[求助补充材料]
 Measurement of complex optical constants of a highly doped Si wafer using terahertz ellipsometry 用太赫兹椭偏法测量高掺杂硅晶片的复光学常数
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期刊：Applied physics letters 作者：Takeshi Nagashima; Masanori Hangyo 出版日期：2001-12-10 |
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