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Profiles and defects in highly channeled and random beam orientation MeV dopant implants in Si(100)
Si(100)中高沟道和随机束取向MeV掺杂剂注入的轮廓和缺陷
相关领域
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期刊:MRS Advances 作者:Michael Current; Yoji Kawasaki; Takuya Sakaguchi; A. Pongrácz; Viktor Samu 出版日期:2023-01-05 |
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