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Polarization-Dependent Atomic Force Microscopy–Infrared Spectroscopy (AFM-IR): Infrared Nanopolarimetric Analysis of Structure and Anisotropy of Thin Films and Surfaces
偏振相关原子力显微镜-红外光谱(AFM-IR):薄膜和表面结构和各向异性的红外纳米偏振分析
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期刊:Applied Spectroscopy 作者:Karsten Hinrichs; Timur Shaykhutdinov 出版日期:2018-04-13 |
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