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 Detecting a Hierarchy of Deep-Level Defects in the Model Semiconductor ZnSiN2 模型半导体ZnSiN2中深能级缺陷的检测
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期刊：The Journal of Physical Chemistry C 作者：Tristan de Boer; Jonas Häusler; Philipp Strobel; Teak D. Boyko; Stefan S. Rudel; et al 出版日期：2021-12-15 |
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