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 Influence of different test strategies on the power cycling test results of 6.5 kV SiC MOSFETs 不同测试策略对6.5 kV SiC MOSFET功率循环测试结果的影响
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期刊：Microelectronics Reliability 作者：M. Gerlach; Roman Boldyrjew-Mast; F. Bruchhold; Josef Lutz; Thomas Basler; et al 出版日期：2021-10-11 |
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