标题 |
Mobility overestimation in molybdenum disulfide transistors due to invasive voltage probes
侵入式电压探针对二硫化钼晶体管迁移率的高估
相关领域
二硫化钼
钼
晶体管
二硫键
材料科学
光电子学
电压
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生物化学
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其它 |
期刊:Nature electronics 作者:Peng Wu 出版日期:2023-11-22 |
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