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Packaging and Test of Photonic Integrated Circuits (PICs)
光子集成电路的封装与测试
相关领域
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期刊: 作者:Stéphane Bernabé; Tolga Tekin; Bogdan Sirbu; Jean Charbonnier; Philippe Grosse; et al 出版日期:2023-06-02 |
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