Fine structure of heat flow path in semiconductor devices: A measurement and identification method

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标题	Fine structure of heat flow path in semiconductor devices: A measurement and identification method 半导体器件热流路的精细结构：一种测量与识别方法相关领域炸薯条热阻页眉材料科学半导体散热片电子工程机械光电子学传热计算机科学机械工程工程类物理电气工程计算机网络
网址	https://doi.org/10.1016/0038-1101(88)90099-8
DOI	10.1016/0038-1101(88)90099-8 doi
其它	期刊：Solid-State Electronics 作者：Vladimı́r Székely; Tran Van Bien 出版日期：1988-09-01
求助人	Joey 在 2024-08-20 16:35:51 发布自中国香港，悬赏 30 积分
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