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Thermal and electrical reliability analysis of TO-247 for bonding method, substrate structure and heat dissipation bonding material
TO-247用于键合方法、基板结构和散热键合材料的热、电可靠性分析
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期刊: 作者:Dong‐Hwan Kim; Aesun Oh; Eunyoung Park; Kyung‐Hyun Kim; Sung-Jae Jeon; et al 出版日期:2021-06-01 |
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