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![]() 基于互补场效应管(CFET)的6T-SRAM的单事件扰动和辐射硬化
相关领域
单事件翻转
心烦意乱
辐射硬化
静态随机存取存储器
辐射
硬化(计算)
材料科学
电气工程
核物理学
物理
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图层(电子)
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期刊: 作者:Zhengxin Zhang; Wangyong Chen; Jianwen Lin; Linlin Cai 出版日期:2024-05-10 |
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