On the Properties of the Intrinsic Point Defects in Silicon: A Perspective from Crystal Growth and Wafer Processing

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标题	On the Properties of the Intrinsic Point Defects in Silicon: A Perspective from Crystal Growth and Wafer Processing 从晶体生长和晶片加工看硅中本征点缺陷的性质相关领域薄脆饼透视图（图形）硅材料科学晶体缺陷点（几何）光电子学工程物理纳米技术结晶学计算机科学工程类化学几何学人工智能数学
网址	https://doi.org/10.1002/1521-3951(200011)222:13.0.co;2-u
DOI	10.1002/1521-3951(200011)222:1<219::aid-pssb219>3.0.co;2-u doi
其它	期刊：physica status solidi (b) 作者：R. Falster; V. V. Voronkov; F. Quast 出版日期：2000-11-01
求助人	标致的小霸王在 2025-03-27 17:46:18 发布自浙江，悬赏 10 积分
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