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 Charge Neutral Point Shift of a 700 nm-Thick α-Ga2O3 Thin-Film Detector under Soft X-ray Irradiation 700 nm厚α-Ga2O3薄膜探测器在软X射线照射下的电荷中性点位移
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期刊：ACS Applied Electronic Materials 作者：Tuan Vo; Sunjae Kim; Minje Kim; H Cho; Se Hoon Gihm; et al 出版日期：2024-07-26 |
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