标题 |
Accelerated Degradation Analysis for the Quality of a System Based on the Gamma Process
基于Gamma过程的系统质量加速退化分析
相关领域
可靠性(半导体)
可靠性工程
蒙特卡罗方法
计算机科学
公制(单位)
推论
数学
统计
功率(物理)
工程类
人工智能
物理
量子力学
运营管理
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其它 |
期刊:IEEE Transactions on Reliability 作者:Man Ho Ling; Kwok‐Leung Tsui; N. Balakrishnan 出版日期:2014-07-18 |
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