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 MaMiNet: Memory-attended multi-inference network for surface-defect detection MaMiNet：用于表面缺陷检测的记忆参与多推理网络
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期刊：Computers in Industry 作者：Xingguang Luο; Sen Li; Yu Wang; Tiancheng Zhan; Xiaoyan Shi; et al 出版日期：2023-02-01 |
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