Failure Analysis of Commercial Ferroelectric Random Access Memory for Single Event Effect

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标题	Failure Analysis of Commercial Ferroelectric Random Access Memory for Single Event Effect 单事件效应下商用铁电随机存取存储器失效分析相关领域电阻器电容器铁电性单事件翻转晶体管材料科学存储单元电子线路电气工程中断随机存取存储器光电子学计算机科学工程类电压静态随机存取存储器计算机硬件电介质微控制器
网址	https://doi.org/10.1109/tns.2022.3153795
DOI	10.1109/tns.2022.3153795 doi
其它	期刊：IEEE Transactions on Nuclear Science 作者：Anan Ju; Hongxia Guo; Fengqi Zhang; Lili Ding; Guanghua Du; et al 出版日期：2022-02-22
求助人	李沐唅在 2024-11-27 19:43:25 发布自贵州，悬赏 10 积分
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