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 Investigation of the Short-circuit Failure Mechanisms in 1.2-kV SiC Trench MOSFETs with Thin N+ Substrates Using Electro-thermal-mechanical Analysis 用电热机械分析研究1.2 kV薄N+衬底SiC沟槽MOSFET的短路失效机制
相关领域
沟槽
材料科学
MOSFET
热失控
光电子学
压力（语言学）
热的
电压
碳化硅
电气工程
复合材料
晶体管
工程类
功率（物理）
语言学
物理
哲学
图层（电子）
电池（电）
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气象学
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