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[高分]
 Enhancing photodetection efficiency of CMOS SiPMs using virtual guard rings in a standard 0.35 µm process 在标准0.35µm工艺中使用虚拟保护环提高CMOS SiPM的光电检测效率
相关领域
硅光电倍增管
光探测
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光电子学
Guard（计算机科学）
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材料科学
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期刊：Electronics Letters 作者：Jonathan Preitnacher; Sergei Ageev; W. Hänsch 出版日期：2023-10-01 |
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