标题 |
Parametric Study on the Void Risk in FC-POP Molded Underfill Process Using a Novel Porous Media, Two-Phase, Compressible Flow Simulation Method
使用一种新的多孔介质两相可压缩流模拟方法对FC-POP成型底部填充过程中的空隙风险进行参数研究
相关领域
倒装芯片
空隙(复合材料)
材料科学
球栅阵列
多孔性
机械工程
复合材料
焊接
工程类
胶粘剂
图层(电子)
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DOI | |
其它 |
期刊:IEEE Transactions on Device and Materials Reliability 作者:Moon Soo Lee; Inhak Baick; Min Suk Jeong; Min Gyu Kim; Seo Hyun Kwon; et al 出版日期:2020-04-03 |
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