标题 |
A Light-Weighted CNN Model for Wafer Structural Defect Detection
一种用于晶圆结构缺陷检测的轻量级CNN模型
相关领域
计算机科学
薄脆饼
人工智能
计算机视觉
模式识别(心理学)
光电子学
材料科学
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DOI | |
其它 |
期刊:IEEE Access 作者:Xiaoyan Chen; Jianyong Chen; Xiaoguang Han; Chundong Zhao; Dongyang Zhang; et al 出版日期:2020-01-01 |
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