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  Measuring the properties of colloidal PbS quantum dot thin films using differential photocarrier radiometry technology 利用差示光载流子辐射测量技术测量胶体PbS量子点薄膜的性质
相关领域
辐射测量
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胶体
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期刊：AIP Advances 作者：Zi-Tao Zhao; Qian Wang; Fei Gao; Donghui Luo; Yan Zhang; et al 出版日期：2024-10-01 |
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