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 Improved atomic force microscope infrared spectroscopy for rapid nanometer-scale chemical identification 用于快速纳米级化学鉴定的改进原子力显微镜红外光谱
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期刊：Nanotechnology 作者：Hanna Cho; Jonathan R. Felts; Min-Feng Yu; Lawrence A. Bergman; Alexander F. Vakakis; et al 出版日期：2013-10-10 |
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