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 Understanding thickness-dependent stability of tungsten-doped indium oxide transistors 了解掺钨氧化铟晶体管的厚度相关稳定性
相关领域
铟
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期刊：Applied Physics Letters 作者：Hyunjin Kim; Hyun-Sik Choi; G.Q. Yun; Won-Ju Cho; Hamin Park 出版日期：2024-10-21 |
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