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 Sub-Pixel Level Defect Detection Based on Notch Filter and Image Registration 基于陷波滤波和图像配准的亚像素级缺陷检测
相关领域
人工智能
计算机视觉
像素
计算机科学
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语言学
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期刊：International Journal of Pattern Recognition and Artificial Intelligence 作者：Longyuan Guo; ShiNan Li; Wenjing Hu; Jianhui Wu; Bing Tu; et al 出版日期：2017-11-28 |
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